โดยฟิล์มบางที่ถูกสังเคราะห์ขึ้นจะนำ

โดยฟิล์มบางที่ถูกสังเคราะห์ขึ้นจะนำไปวัดค่า(X-rayDiffractometer;XRD), (Scanning Electron Microscope ;SEM), และวัดความหนาของชั้นฟิล์มด้วยกล้องจุลทรรศน์ แล้วนำค่าที่วัดได้มาวิเคราะห์โครงสร้างของฟิล์มบางของไททาเนียมไดออกไซด์

ผลลัพธ์ (อังกฤษ) 1:

Thin film synthesis by more accurate to measure (X-rayDiffractometer; XRD), (Scanning Electron Microscope SEM;), and the film layer thickness measurement with microscope and analyzed to measure value structure of thin film of titanium dioxide.

ผลลัพธ์ (อังกฤษ) 2:

The films were synthesized to be measured (X-rayDiffractometer; XRD), (Scanning Electron Microscope; SEM), and measuring the thickness of the layer under a microscope. Then the values ​​measured by analyzing the structure of a thin film of titanium dioxide.

ผลลัพธ์ (อังกฤษ) 3:

The film was synthesized to take some measure (X-rayDiffractometer; XRD), (Scanning Electron Microscope; SEM), and measure the thickness of the ชั้นฟิล์ม under a microscope. The measured values were analyzed the structure of the thin film of titanium dioxide
.