กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน (TEM) หมายถึง การตรวจสอบโครงสร้างภายในของโครงสร้างไมโครหรือนาโน

ผลลัพธ์ (อังกฤษ) 1:

Transmission electron microscope (TEM) is meant to examine the internal structure of nano-structures, micro-or.

ผลลัพธ์ (อังกฤษ) 2:

TEM electron microscopy (TEM) means to determine the internal structure of micro or nano-structures.

ผลลัพธ์ (อังกฤษ) 3:

Transmission electron microscope (TEM) means to check the internal structure of a โครห or nano structure