โดยปรากฏ XRD มีรูปแบบตำแหน่งสูงสุดเ

โดยปรากฏ XRD มีรูปแบบตำแหน่งสูงสุดเกิดขึ้นอยู่ในช่วง Scale ที่ 8 -10 และ 20 -25 ตำแหน่งเดียวกับพีคมาตรฐานของ H-ZSM-5 และสัดส่วนของ Si/Al มีแนวโน้มสัดส่วนของการแทรกตัวมากขึ้นและคงที่ที่ 19:1% ซึ่งอุณหภูมิและระยะเวลาส่งผลต่อการเกิดปฏิกิริยาการเกิดผลึก H-ZSM-5 ซึ่งสัมพันธ์กับพลังงานในการกระตุ้นการสังเคราะห์ ซีโอไลต์เพิ่มมากขึ้น

ผลลัพธ์ (อังกฤษ) 1:

The XRD patterns with the highest position occurs in the range Scale 8-10 and 20-25 p in the same position, outstandingly well-suited to your H-ZSM-5 and proportions of Si/Al is the tendency of inserting more and constant at 1%: 7: where the duration and temperature affect the reactivity of the H-ZSM-5 that is associated with the energy crystals in stimulating synthesis. More zeolite

ผลลัพธ์ (อังกฤษ) 2:

The XRD pattern shows up in the top position Scale 8 -10 and 20 -25 with the peak of H-ZSM-5, and the ratio of Si / Al ratio tends to insert itself more and more. fixed at 19: 1% of the time and temperature affect the reaction of H-ZSM-5 crystals in relation to energy to stimulate the synthesis. Zeolites more

ผลลัพธ์ (อังกฤษ) 3:

The XRD form the highest position occurs in the Scale that 8 - 10 20 - 25 peak position and the same standard of H-ZSM-5 and proportion. Si / Al tend more proportion of insertion and 19: constant temperature and time 1% which affect the reaction crystallization H-ZSM-5. In relation to the power to stimulate the synthesis of zeolite increases.