อิเล็กตรอนพลังงานสูงในการตรวจสอบวัต

อิเล็กตรอนพลังงานสูงในการตรวจสอบวัตถุแทนแสงธรรมดา เนื่องจากความยาวคลื่นของลำอนุภาคอิเล็กตรอนนั้นสั้นกว่าความยาวคลื่นแสงถึง 100,000 เท่า ทำให้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสามารถให้ประสิทธิภาพของกำลังขยาย และการแจกแจงรายละเอียดได้เหนือกว่ากล้องจุลทรรศน์แบบใช้แสง

ผลลัพธ์ (อังกฤษ) 1:

High energy electron in ordinary objects, instead of checking the light because the wavelength of an electron particle beam, then the shorter wavelength light reaching 100,000 only makes the electron microscope capable of providing effectiveness of expanding and distribution details beyond the optical microscope.

ผลลัพธ์ (อังกฤษ) 2:

High energy electrons to examine objects instead of conventional lighting. Because the wavelength of the electron beam is shorter than the wavelength of light as 100,000 times the performance of electron microscopes can provide magnification. And the details have superior light microscope.

ผลลัพธ์ (อังกฤษ) 3:

High energy electron in inspection of objects instead of แสงธรรมดา. Because the wavelength of the electron is much shorter than the wavelength of light particle beam, to 100000 times, electron microscope can make the efficiency of expanding. And distribution details over the light microscope.