ฟิล์มบางบิสมัสเทลลูไรด์ถูกเคลือบลงบ

ฟิล์มบางบิสมัสเทลลูไรด์ถูกเคลือบลงบนวัสดุรองรับที่เป็นโพลีอิมมิด โดยวิธีอาร์เอฟแมกนีตรอนสปัตเตอริงโดยใช้เป้าบิสมัสเทลลูไรด์ (99.99%) ขนาดเส้นผ่าศูนย์กลาง 3 นิ้ว มีระยะห่างระหว่างเป้าและวัสดุรองรับ 50 mm. โดยก่อนนำชิ้นงานไปติดตั้ง ได้นำแผ่นโพลีอิมมิดไปอัลตร้าโซนิคในแอลกอฮอล์เป็นเวลา 15 นาที เพื่อขจัดสิ่งสกปรกและทำความสะอาดผิวหน้าของชิ้นงาน กำหนดกำลังไฟฟ้าที่จ่ายให้เป้า Bi2Te3คือ 45 วัตต์ มีความดันพื้นใน การเคลือบ 2×10-5 mbar และความดันที่ใช้ในการเคลือบฟิล์มคือ 5x10-3 mbar โดยใช้ก๊าซอาร์กอน เวลาในการเคลือบ 30 นาที จากนั้นจึงนำไปอบที่อุณหภูมิแตกต่างกัน (300, 350 และ 400 °C) ภายใต้ความดันบรรยากาศของก๊าซไนโตรเจน (6 x 10-3 mbar) เป็นเวลา 1 ชั่วโมง
ฟิล์มบางที่ได้ถูกนำไปวิเคราะห์โครงสร้างผลึก โดยใช้เครื่องทดสอบการเลี้ยวเบนของรังสีเอกซ์ (X-ray diffraction, XRD ยี่ห้อ Bruker รุ่น D8-Discover) ซึ่งใช้รังสีเอกซ์ CuKα ความยาวคลื่น 1.54056 อังสตรอม, กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดความละเอียดสูง (Field Emission Scanning Electron Microscope, FE-SEM รุ่น JSM-7001F) โดยใช้หัววัด Secondary Electron Detector ถ่ายภาพออกมาในโหมด Secondary Electron Image (SEI) และเชื่อมต่อกับอุปกรณ์วิเคราะห์ธาตุเชิงพลังงาน (Energy Dispersive X-Ray Spectrometer, EDS) โดยแสดงผลเป็นสเปกตรัมพลังงานของธาตุต่างๆพร้อมกับระบุสัดส่วนปริมาณของแต่ละส่วนประกอบและ วัดสมบัติทางเทอร์โมอิเล็กทริกของฟิล์มโดยใช้เครื่องวัดคุณสมบัติทางไฟฟ้า (Seebeck Coefficient/ Electrical Resistance Measurement System, ZEM-3 ยี่ห้อ ULVAC-RIKO)

ผลลัพธ์ (อังกฤษ) 1:

Thin film coating samat pour kullu bikini on, ride the material serves as a poly-IM mid. By r. a. famaek nit Ron could use the business target foe Tehran sapat samat (99.99%), pour the kullu ride diameter 3 inches is the distance between the target and the material support of 50 mm. prior to installing the parts of the image taken mid to ultra sonic in alcohol for a period of 15 minutes in order to eliminate dirt and clean the surface of the.Piece of work Given the power to target. Bi 2 Te 3 is a 45 Watt surface coated with a pressure of 2 × 10-5 mbar and the pressure used in the coating film is 5x10-3 mbar using gas argon coating, 30 minutes from the time it take to steam at different temperatures (300, 350 and 400° C) under a pressure of nitrogen gas atmosphere (6 x 10-3 mbar) 1 hour. ฟิล์มบางที่ได้ถูกนำไปวิเคราะห์โครงสร้างผลึก โดยใช้เครื่องทดสอบการเลี้ยวเบนของรังสีเอกซ์ (X-ray diffraction, XRD ยี่ห้อ Bruker รุ่น D8-Discover) ซึ่งใช้รังสีเอกซ์ CuKα ความยาวคลื่น 1.54056 อังสตรอม, กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดความละเอียดสูง (Field Emission Scanning Electron Microscope, FE-SEM รุ่น JSM-7001F) โดยใช้หัววัด Secondary Electron Detector ถ่ายภาพออกมาในโหมด Secondary Electron Image (SEI) และเชื่อมต่อกับอุปกรณ์วิเคราะห์ธาตุเชิงพลังงาน (Energy Dispersive X-Ray Spectrometer, EDS) โดยแสดงผลเป็นสเปกตรัมพลังงานของธาตุต่างๆพร้อมกับระบุสัดส่วนปริมาณของแต่ละส่วนประกอบและ วัดสมบัติทางเทอร์โมอิเล็กทริกของฟิล์มโดยใช้เครื่องวัดคุณสมบัติทางไฟฟ้า (Seebeck Coefficient/ Electrical Resistance Measurement System, ZEM-3 ยี่ห้อ ULVAC-RIKO)

ผลลัพธ์ (อังกฤษ) 2:

Pour a thin film bismuth telluride is coated onto a substrate Poly Impact Middlesbrough. By R. F. magnetron sputtering sterling by blowing BUSINESS Mustaine telluride (99.99%) in diameter, 3 inches, the distance between the target and substrate 50 mm. The earlier pieces. Work to install Polycarbonate sheet has led to Imphal Mid Ultra Sonic in alcohol for 15 minutes to remove the dirt and clean the surface of the workpiece. Be the electric power supply to the 45-watt range Bi2Te3 pressure in the coating surface 2 × 10-5 mbar and pressure used in the coating film is 5x10-3 mbar using argon gas. 30 minutes from time in the coating is then baked at different temperatures (300, 350 and 400 ° C) under atmospheric pressure of nitrogen gas (6 x 10-3 mbar) for one hour
to film. The crystal structure was analyzed The tester diffraction of X-rays (X-ray diffraction, XRD make Bruker model D8-Discover), which uses X-rays CuKα wavelength 1.54056 Angstrom, electron microscopy, SEM resolution (Field Emission Scanning Electron Microscope,. FE-SEM model JSM-7001F) using a probe Secondary Electron Detector burst shooting mode Secondary Electron Image (SEI) and connect to the device element analysis-oriented energy (Energy Dispersive X-Ray Spectrometer, EDS) by impressions. energy spectrum of elements with specific and disproportionate amount of each component. Measuring thermoelectric properties of dielectric films using a measure electrical properties (Seebeck Coefficient / Electrical Resistance Measurement System, ZEM-3 All ULVAC-RIKO).