3.6.2.1 ก่อนนาผงอนุภาคไปวิเคราะ้์เฟ

3.6.2.1 ก่อนนาผงอนุภาคไปวิเคราะ้์เฟสนั้นจาเป็นต้องทำให้ผิวของผงอนุภาคเกิดฟิล์ม
ออกไซด์ทุกครั้ง เพื่อป้องกันการเกิดออกซิเดชันที่รุนแรงกับอากาศซึ่งจะส่งผลให้การวิเคราะห์เฟสของ
ผงอนุภาคผิดไป
3.6.2.2 นาผงอนุภาคมาบดให้ละเอียดโดยมีขนาดของอนุภาคน้อยกว่า 100 ไมครอน
3.6.2.3 ใส่ผงอนุภาคลงในกรอบใส่ตัวอย่าง (Sample Holder)
3.6.2.4 ใช้แผ่นกระจกกดผงอนุภาคที่อยู่ในกรอบใส่ตัวอย่างใ้้เรียบและอัดแน่น
3.6.2.5 นำเข้าเครื่อง XRD เพื่อนาไปวิเคราะห์หาโครงสร้างของสารโดยใช้ความต่างศักย์
เป็น 40 กิโลโวลต์และกระแสเป็น 30 มิลลิแอมป์
3.6.2.6 นำไปตรวจวัดในช่วงมุมการส่องกวาดระ้ว่าง 20 องศา ถึง 120 องศา ด้วย
ความเร็วในการสแกนเท่ากับ 5 องศาต่อนาที และขั้นการสแกน 0.01 องศา
3.6.2.7 นำข้อมูลที่ได้ไปเปรียบเทียบกับข้อมูลในแฟ้ม JCPDS เพื่อตรวจหาลักษณะผลึก
้หรือเฟส (Phase)
3.6.2.8 นำข้อมูลของมุมสะท้อนของการวัดเส้นรังสีเอกซ์ (X-Rays) ต่างๆ ที่ได้จากการ
วิเคราะห์ด้วย XRD มาคำนวณขนาดผลึกเฉลี่ยโดยอาศัยความสัมพันธ์ของเชียร์เรอร์ Scherrer
Equation) [106] แสดงดังสมการที่

ผลลัพธ์ (อังกฤษ) 1:

3.6.2.1 donations the preceding phase particles to powder it is necessary to make the surface of the powder particles film.Oxide every time to prevent severe oxidation with air which will result in the analysis phase of the.The powder particles.3.6.2.2. grinding powder particles come to NA by having a particle size less than 100 microns.3.6.2.3 put the powder particles down in insert frame samples (Sample Holder).3.6.2.4 used glass is pressed powder particles enter the example ใรียบ and Vroom.3.6.2.5 imported XRD analysis for the structure of matter using the mechanisms.40 kilovolts and flow is 30 mAh.3.6.2.6 leads to measurement in the range of angle of 20 degrees, draw a blank hostname is indicative of revenue up to 120 degree.Scanning speed is equal to 5 degrees per min, and step scan 0.01 degrees.3.6.2.7 to compare it with the data in the file to determine the crystalline characteristics JCPDS.Or a phase (Phase).3.6.2.8 information of the angle of the measured line x-rays (X-Rays) from the.Analysis by the average Crystal size XRD calculated pre-calculated cheer Association mirroring Scherrer.[106] the Equation) indicated as equations

ผลลัพธ์ (อังกฤษ) 2:

3.6.2.1 prior to powder particles Analytics Phase need to make a film of dust particles
dioxide every time. To prevent oxidation of the severe weather, which will contribute to the analysis phase of
the powder particles to
3.6.2.2. The powder particles are ground to a fine particle size of less than 100 microns
3.6.2.3. Powder particles in the sample (Sample Holder)
3.6.2.4. Take a sheet of glass pressed powder particles in the sample stored flat and crowded
3.6.2.5. Imported rice for XRD analysis of the structure of the voltage
was 40 kV and current is 30 mA
3.6.2.6. To measure the angle between two busy sweeping 20 ° to 120 ° with a
scan speed of 5 degrees per minute and scanning step 0.01 degrees
3.6.2.7 The data were compared with data in the file JCPDS to detect. style crystal
or the phase (Phase)
3.6.2.8 The data measuring the angle of the x-rays (X-Rays) are derived from the
XRD analysis to calculate the average crystal size by virtue of Shearer. Scherrer
Equation) [106] shown that equation.

ผลลัพธ์ (อังกฤษ) 3:

3.6.2.1 before rice powder particles ไปวิ analysis first phase from water to make the surface of the powder particles formed film.Oxide every time. To prevent oxidation with air, which will result in serious analysis phase.Powder particles was wrong.3.6.2.2 Na particle powder grinding finely by particle size of less than 100 micron.3.6.2.3 put powder particles into the frame, put a sample (Sample Holder).3.6.2.4 using glass powder particles in the press frame put water samples are smooth and compact.3.6.2.5 import restrictions XRD in order to analyze the structure of the voltage.A 40 kV and current 30 ma.The measurement of 3.6.2.6 during shedding swept the empty corner as 20 degrees to 120 degrees.Scanning speed of 5 degrees per minute and step scan 0.01 degrees.3.6.2.7 data was compared with data in a file JCPDS to detect the crystals.Or phase (Phase).3.6.2.8 data in the angle of reflection measurement of X-ray lines (X-Rays), from.Analysis XRD to calculate average crystal size by using the relationship of the shearer Scherrer.Equation) [] is shown 106 equation.