กล้องจุลทรรศน์ที่ใช้สำหรับวัดเส้นลา

กล้องจุลทรรศน์ที่ใช้สำหรับวัดเส้นลายวงจรที่ใช้ปัจจบันนี้มีสภาพที่เสื่อมโทรม เลนส์ไม่ชัดเป็นรอย. ส่งผลกระทบต่อการต่อสอบเส้นลายวงจร

ผลลัพธ์ (อังกฤษ) 1:

Using the microscope for measuring the line pattern that is used for the current condition of this degenerate chaban. Blurry lens scratching. Impact per line pattern

ผลลัพธ์ (อังกฤษ) 2:

The microscope is used to measure the circuit at present, this condition has deteriorated. The lens is not clearly marked. The impact of the line on the circuit.

ผลลัพธ์ (อังกฤษ) 3:

Microscope for measuring the line circuit used factors present condition worsen. ไม่ชัด lens is welded. Impact on line test circuit.