transmission electron microscope (T

transmission electron microscope (TEM) เป็นกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนที่ใช้ศึกษาตัวอย่างชนิดบาง ซึ่งเตรียมขึ้นโดยวิธีพิเศษเพื่อให้ลำอนุภาคอิเล็กตรอนผ่านทะลุได้ การสร้างภาพจากกล้องประเภทนี้จะทำได้โดยการตรวจวัดอิเล็กตรอนที่ทะลุผ่านตัวอย่างนั่นเอง เครื่อง TEM เหมาะสำหรับศึกษารายละเอียดขององค์ประกอบภายในของตัวอย่าง เช่น องค์ประกอบภายในเซลล์ ลักษณะของเยื่อหุ้มเซลล์ ผนังเซลล์ เป็นต้น ซึ่งจะให้รายละเอียดสูงกว่ากล้องจุลทรรศน์ชนิดอื่นๆ เนื่องจากมีกำลังขยายและประสิทธิภาพในการแจกแจงรายละเอียดสูงมาก (กำลังขยายสูงสุดประมาณ 0.1นาโนเมตร)

หลักการจะประกอบด้วยแหล่งกำเนิดอิเล็กตรอนซึ่งทำหน้าที่ผลิตอิเล็กตรอนเพื่อป้อนให้กับระบบ โดยกลุ่มอิเล็กตรอนที่ได้จากแหล่งกำเนิดจะถูกเร่งด้วยสนามไฟฟ้า จากนั้นกลุ่มอิเล็กตรอนจะผ่านเลนส์รวบรวมรังสี (condenser lens) เพื่อทำให้กลุ่มอิเล็กตรอนกลายเป็นลำอิเล็กตรอน ซึ่งสามารถปรับให้ขนาดของลำอิเล็กตรอนใหญ่หรือเล็กได้ตามต้องการ จากนั้นลำอิเล็กตรอนจะเคลื่อนที่ผ่านตัวอย่างที่จะศึกษา (specimen) ไป ซึ่งตัวอย่างที่จะศึกษาจะต้องมีลักษณะที่แบนและบางมาก (บ่อยครั้งที่พบว่าอยู่ในช่วงระหว่าง 1 - 100 นาโนเมตร) จากนั้นจะเกิดการกระเจิงอนุภาคขึ้นเมื่ออิเล็กตรอนทะลุผ่านตัวอย่างไป และอิเล็กตรอนที่ทะลุผ่านตัวอย่างนี้ก็จะถูกปรับโฟกัสของภาพโดยเลนส์ใกล้วัตถุ (objectivr lens)ุ ซึ่งเป็นเลนส์ที่ทำหน้าที่ขยายภาพให้ได้รายละเอียดมากที่สุด จากนั้นจะได้รับการขยายด้วยเลนส์ทอดภาพไปสู่จอรับ (projector lens) และปรับโฟกัสของลำอนุภาคอิเล็กตรอนให้ยาวพอดีที่จะปรากฏบนฉากเรืองแสง สุดท้ายจะเกิดการสร้างภาพขึ้นมาได้

ผลลัพธ์ (อังกฤษ) 1:

Transmission electron microscope (TEM) electron microscope is used, for example, some types of studies which prepared by electron beam particle method to pass through. Create image from a camera of this type is done by measuring the electron passes through the samples themselves. The machine is suitable for TEM study on the details of the internal elements of, for example, an element within a cell membrane, cell wall, cell's style that will give you the details above other types of microscope because an expanding and powerful distribution detail (maximum estimate is 0.1 NM). The principle consists of the origin of the electron-electron to enter acting production systems. Therefore, the electrons from the cradle will be accelerated by electric. Then a group of electrons to pass through the lens (condenser lens) radiation is collected in order to make the Group an electron becomes an electron beam. Which can be adapted to the size of a beam of electrons is larger or smaller as needed. Then the electron beam moving through, for example, to study the sample (specimen) to study must look at the flat and very thin (often found in the range of between 1-100 nm) and then an electron passes through a krachoeng particle when, for example, and electronic check.The Plains through this example, it will be the focus of the lens near the image object (objectivr lens) ุ, which is the lens serves to expand the image to be. Then it has been extended with a picture to the screen, stretch the lens (lens projector) and adjust the focus of the electron particle beam to length to fit the glow appears on the scene. Finally, to create the image.

ผลลัพธ์ (อังกฤษ) 2:

transmission electron microscope (TEM), electron microscopy was used to study the example of some kind. Which was prepared by a special electron beam to pass through it. The image from the camera, this is achieved by detecting electrons that pass through it for TEM sample for detailed study of the composition of the components within the cell, for example. The characteristics of the cell wall membrane which will provide higher resolution microscopy other. Because there are expanding and highly effective detailing. (Maximum magnification Approx 0.1 nm) will include the electron source which produces electrons to enter the system. By electrons from source is being accelerated by the electric field. Then the electrons to collect radiation through the lens (condenser lens) to make the electrons into an electron beam. Which can adjust the size of the electron beam, large or small as needed. The electron beam is moved across the sample to be studied (specimen) to the sample to be studied must look flat and very thin. (Often found in the range between 1-100 nm), then the scattering particles when electrons pass through the sample. And electrons passing through the sample, it will be the focus of the objective lens (objectivr lens) objects, which acts as a lens that can zoom in on details as possible. It will then be expanded with fried lens to the retina image (projector lens) and focus the electron beam to length to fit on the screen glow. Finally, it will create up.