กล้องจุลทรรศน์ที่ใช้สำหรับวัดเส้นลา

กล้องจุลทรรศน์ที่ใช้สำหรับวัดเส้นลายวงจรที่ใช้ปัจจบันนี้มีสภาพที่เสื่อมโทรม เลนส์มัว. ส่งผลกระทบต่อการตรวจสอบเส้นลายวงจร

ผลลัพธ์ (อังกฤษ) 1:

Using the microscope for measuring the line pattern that is used for the current condition of this degenerate chaban. Blurry lens. Impact monitoring line pattern

ผลลัพธ์ (อังกฤษ) 2:

The microscope is used to measure the circuit at present, this condition has deteriorated Lens Blur. Affect the monitoring circuit.

ผลลัพธ์ (อังกฤษ) 3:

Microscope for measuring the line circuit used factors present condition worsen, lens dim. Affect the inspection pattern lines of circuits.