เครื่องวิเคราะห์การเลี้ยวเบนรังสีเอ

เครื่องวิเคราะห์การเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ หรือ X-ray Diffractometer (XRD) เป็นเครื่องมือ ที่ใช้ในการวิเคราะห์สมบัติของวัสดุ โดยอาศัยหลักการเลี้ยวเบนของรังสีเอกซ์ โดยสามารถทำการวิเคราะห์ได้ทั้งสารประกอบที่มีอยู่ในสารตัวอย่าง และนำมาใช้ศึกษารายละเอียดเกี่ยวกับโครงสร้างผลึกของสารตัวอย่างได้อีกด้วย ในผลึกของตัวอย่างแต่ละชนิด จะมีขนาดของ Unit Cell ที่ไม่เท่ากัน ทำให้ Pattern ของการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ ที่ออกมาไม่เท่ากัน ทำให้เราสามารถหาความสัมพันธ์ของสารประกอบต่างๆ กับ Pattern การเลี้ยวเบนของรังสีเอกซ์ได้ ซึ่งจะทำให้เราทราบว่า ในตัวอย่างนั้นๆ มีสารประกอบอะไรอยู่บ้าง

นอกจากนี้ ผลการวิเคราะห์ของ XRD จะสามารถหาองค์ประกอบของตัวอย่างได้แล้วนั้น ยังสามารถคำนวณหา ปริมาณขององค์ประกอบต่างๆ ที่อยู่ในตัวอย่าง, คำนวณหาขนาดอนุภาคของแต่ละ Unit cell, ความเครียดของตัวอย่าง, ค่าความเป็นผลึกของตัวอย่างได้อีกด้วย นอกจากนี้ ยังสามารถทำการวิเคราะห์ องค์ประกอบของฟิล์มบาง และคำนวณค่าความหนาของชั้นฟิล์มบาง ได้อีกด้วย

ผลลัพธ์ (อังกฤษ) 1:

Diffraction analysis x-ray machine or an X-ray Diffractometer (XRD) is a tool used to analyze the properties of the material. Based on the principle of x-ray diffraction analysis can be made both by the compounds contained in the sample and study the information about the structure of crystalline substances, for example. In the sample's crystals each the size of the Unit Cell are not equal. Making the Pattern of x-ray diffraction that came out. We can find the relationship of the various compounds with the Pattern of x-ray diffraction, which will allow us to know what is in their compounds? In addition, the results of XRD analysis can find elements of, for example, it can also calculate the quantity of an element in the sample, calculation of particle size of each Unit cell, for example, the stress of a crystalline sample values. It is also possible to perform analysis of thin film elements and calculate the thickness of a thin film layer.

ผลลัพธ์ (อังกฤษ) 2:

X-ray diffraction analysis or X-ray Diffractometer (XRD) instruments. The properties of the material. Guided by the principle of X-ray diffraction. By analyzing the compounds in the samples. And adopt a detailed study on the crystal structure of samples, too. Examples of each type of crystal the size of a Unit Cell Unequalled Pattern of X-ray diffraction. Unequal out Allowing us to investigate the relationship of compounds with Pattern diffraction of X-rays have. This leaves us know In the example that What are some compound addition. Results of XRD analysis to find out the composition of the sample was then. You can also calculate The amount of components In the example, calculate the size of each Unit cell, strain of example, the crystallinity of the sample, too, can also be analyzed. The composition of thin films And calculating the thickness of thin film as well.

ผลลัพธ์ (อังกฤษ) 3:

The X-ray diffraction analyzer, or X-ray Diffractometer (XRD) is a tool which is used to analyze the properties of the material. Based on X-ray diffraction. The analysis of both compounds contained in the samples. And used to study the details of the crystal structure of the samples. In crystals of samples each type is the size of the Unit Cell unequal, Pattern of X-ray diffraction. Out are not equal. We can find the relationship of various compounds with Pattern X-ray diffraction, which will make us know that in the example cuisine. A compound??In addition, the results of the XRD can find elements of examples. Also can calculate the quantity of elements in the sample,. Calculate the particle size of each Unit cell, stress of sample, the crystallinity of the sample with also can analyze. The elements of thin films, and calculate the thickness of the thin film.